摘要： 在OLED/QLED顯示材料、LED熒光粉、量子點(diǎn)及鈣鈦礦發(fā)光材料等前沿領(lǐng)域，絕對量子效率（光致發(fā)光量子產(chǎn)率，PLQY）是衡量材料發(fā)光性能的核心指標(biāo)。池田屋全新引入的日本大塚電子（Otsuka Electronics）QE-2100型絕對量子效率測量系統(tǒng)，基于積分半球單元與低雜散光多通道光譜探測技術(shù)，可對粉末、溶液、薄膜及固體樣品進(jìn)行快速、高精度的絕對量子效率測量，并支持溫度依賴性量子效率評價與紫外至近紅外寬波段覆蓋，為發(fā)光材料研發(fā)與質(zhì)量控制提供了高效精準(zhǔn)的表征工具。

正文：

在OLED/QLED顯示材料開發(fā)、LED熒光粉優(yōu)化、量子點(diǎn)合成工藝研究以及鈣鈦礦發(fā)光材料評價中，絕對量子效率（Photoluminescence Quantum Yield, PLQY）是衡量材料光致發(fā)光性能的核心指標(biāo)，直接關(guān)系到器件的亮度、效率與功耗。傳統(tǒng)量子效率測量方法依賴相對法或復(fù)雜的積分球系統(tǒng)，操作繁瑣且測量精度受樣品形態(tài)與散射特性影響。為滿足發(fā)光材料研發(fā)對高效精準(zhǔn)量子效率表征的需求，池田屋引入日本大塚電子QE-2100型絕對量子效率測量系統(tǒng)。

大塚電子成立于1973年，隸屬于大塚集團(tuán)，在光學(xué)測量領(lǐng)域擁有超過五十年的技術(shù)積累。QE-2100是大塚電子針對發(fā)光材料絕對量子效率測量開發(fā)的專用系統(tǒng)，采用積分半球單元光學(xué)設(shè)計，結(jié)合低雜散光多通道光譜探測器，有效降低了紫外區(qū)域的雜散光影響，顯著提升了量子效率測量的精度與可靠性。

在核心性能方面，QE-2100可測量粉末、溶液、固體（薄膜）及薄膜樣品等多種形態(tài)的發(fā)光材料。其積分半球單元相比傳統(tǒng)積分球具有更高的光收集效率，尤其適用于弱發(fā)光或散射嚴(yán)重的粉末樣品。系統(tǒng)通過再激發(fā)熒光校正功能進(jìn)一步消除二次吸收效應(yīng)對測量結(jié)果的影響，確保量子效率數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

在測量能力方面，QE-2100支持激發(fā)光譜測量與絕對量子效率同步測定。用戶僅需設(shè)置好樣品測量池，通過專用軟件即可輕松完成測量。系統(tǒng)可選配變溫樣品架，實(shí)現(xiàn)量子效率的溫度依賴性評價（50-300℃），這對于研究材料的熱穩(wěn)定性與器件工作溫度下的性能表現(xiàn)至關(guān)重要。光譜探測范圍可通過更換檢測器擴(kuò)展，支持從紫外（約300nm）至近紅外（約1600nm） 的寬波段測量。

在硬件設(shè)計方面，QE-2100采用緊湊型一體式設(shè)計，操作簡便。專用軟件界面直觀，用戶可通過簡單的幾步操作完成測量參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集與結(jié)果輸出。系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于發(fā)光材料的研發(fā)、質(zhì)量控制與生產(chǎn)工藝優(yōu)化。

在應(yīng)用場景方面，QE-2100廣泛適用于OLED/QLED顯示材料的發(fā)光效率評價、LED用熒光粉的量子效率優(yōu)化、量子點(diǎn)與鈣鈦礦發(fā)光材料的研發(fā)表征，以及生物熒光標(biāo)記與光動力治療材料的性能評估。

行業(yè)觀察人士指出，在發(fā)光材料研發(fā)與質(zhì)量控制領(lǐng)域，絕對量子效率的精確測量是推動材料性能提升與器件優(yōu)化的基礎(chǔ)。池田屋此次引入的大塚電子QE-2100絕對量子效率測量系統(tǒng)，以其積分半球高效光收集、低雜散光高精度探測、多形態(tài)樣品兼容及溫變測量能力等核心優(yōu)勢，為國內(nèi)發(fā)光材料科研與產(chǎn)業(yè)界提供了高效精準(zhǔn)的量子效率表征平臺。

綜合來看，該產(chǎn)品的推廣應(yīng)用，有助于提升發(fā)光材料在量子效率表征環(huán)節(jié)的精度與效率，為OLED、LED及新型發(fā)光材料的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化提供堅(jiān)實(shí)的技術(shù)支撐。